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新型奧氏體晶粒度顯示劑流線 偏析顯示液

簡要描述:新型奧氏體晶粒度顯示劑流線 偏析顯示液用于鋼的奧氏體晶粒度、金屬流線、偏析顯示,滿足 GB/T 6394、

ASTM E 112標準。

  • 更新時間:2024-09-23
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詳細介紹

新型奧氏體晶粒度顯示劑 流線偏析顯示液

新型奧氏體晶粒度顯示劑流線 偏析顯示液,用于鋼的奧氏體晶粒度、金屬流線、偏析顯示,滿足 GB/T 6394、

ASTM E 112標準,具有以下特點:

1、替代飽和KWS試劑,安全;
2、不需二次熱處理,直接浸蝕,可顯示碳鋼、合金鋼的原奧氏體晶界,降低能耗,提高檢測效率;

3、弱腐蝕性,低毒性,使用安全。

表示晶粒大小的尺度叫晶粒度,常用單位體積(或單位面積)內的晶粒數目或晶粒的平均線長度(或直徑)表示。工業生產上采用晶粒度等級來表示晶粒大小。標準晶粒度共分12級,1~4級為粗晶粒,5~8級為細晶粒,9~12級為超細晶粒度。
金屬結晶時,每個晶粒都是由一個晶核長大而成的,因此晶粒的大小取決于晶核的數目和晶粒長大速度的相對大小。晶核的數目用形核率表示。形核率越大,單位體積中晶核的數目越多,晶粒越細小。長大速度越小,長大過程中形成的晶核批次越多,晶核數目越多,因而晶粒越細小。反之,形核率越小而長大速度越大,則晶粒越粗大。因此晶粒度的大小取決于形核率N和長大速率G之比,比值N/G越大,晶粒越細小。




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